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便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX"的原理及運(yùn)用介紹
X 射線熒光光譜法 全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜法
全內(nèi)反射X射線熒光光譜法與普通X射線熒光光譜法的不同之處在于，光線以低于全反射臨界角的低角度入射到樣品表面，因此不會(huì)穿透樣品臺(tái)基板，可以由于不產(chǎn)生散射 X 射線，因此可以進(jìn)行超痕量分析。
含有 Sc、Cr、Co、As 和 Sr 各 1 ng 的熒光 X 射線光譜
30多歲男性頭發(fā)熒光X射線光譜
【特征】 ●媲美ICP/原子吸收光譜儀的高靈敏度 ●主機(jī)總重僅8kg ●可進(jìn)行ppm至ppb級(jí)別的分析 ●無需液氮或冷卻水
[應(yīng)用] ●用于測試井水和河流 ●用于分析土壤和玩具中的瀝濾水 ●用于食品、制藥、法醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的現(xiàn)場分析
毛發(fā)成分分析
藥品分析（感冒藥）
雨水分析
混合標(biāo)準(zhǔn)溶液的分析
指紋成分分析
空氣顆粒物分析
| 測量原理 | 全內(nèi)反射X射線熒光光譜法 |
| 測量目標(biāo) | 液體、飲用水、土壤滲濾液、污水等 |
| 測量元件 | 13Al～92U |
| 狹縫機(jī)構(gòu) | X射線路波路 |
| 樣品臺(tái) | 石英光學(xué)平板 |
| 設(shè)備重量 | 約8公斤 |
| 樣品室氣氛 | 氣氛 |
| X射線額定輸出 | 0-48kV，最大0.2mA /48-50kV，最大0.175mA |
| 探測器 | 電子冷卻 SDD |
| 計(jì)數(shù)電路 | 數(shù)字處理方法（數(shù)字信號(hào)處理器） |
| 測量條件 | 溫度：5-27℃ 濕度：20-75% 電源：AC100V，5A 設(shè)備：D級(jí)安裝 |
| 其他選項(xiàng) | 噴墨彩色打印機(jī)、鼠標(biāo)等 |
*引進(jìn)OURSTEX200TX時(shí)，需提前向勞動(dòng)基準(zhǔn)監(jiān)督署通報(bào)。
