硅片表面光潔度檢測設(shè)備-光澤度計(jì)IG-410的特點(diǎn)

硅片表面光潔度檢測設(shè)備-光澤度計(jì)IG-410的特點(diǎn)

使用近紅外線作為光源，測量光澤度為1000（鏡面反射率100%）。
這是一種便于現(xiàn)場作業(yè)的便捷類型，只需將與顯示部分分離的測量部分放置在被攝體上即可進(jìn)行測量。
無需預(yù)熱。
它非常適合需要高水平表面光澤的產(chǎn)品的質(zhì)量控制，例如汽車頭燈等照明用反射器、復(fù)印機(jī)用反射器和硅晶圓。

• IG-410 能夠測量金屬等高光澤區(qū)域，
  是 IG 系列光澤度檢查儀的新成員。測量范圍為0至1000，比以前的型號大10倍。還可以測量鏡面樣品。 

• 緊湊輕巧的設(shè)計(jì)，方便現(xiàn)場測量，
  重量僅350g，方便攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以輕松攜帶到生產(chǎn)現(xiàn)場進(jìn)行測量。
  由于采用LED作為光源，因此無需擔(dān)心光源的壽命。
  

• 可通過在 2 個(gè)量程之間切換來測量低光澤度。可
  在 0 至 100 和 0 至 1000 之間切換。每個(gè)范圍都配有自己的校準(zhǔn)板。
  IG-410 不僅可以測量高光澤金屬，還可以測量低光澤區(qū)域，例如金屬板上涂漆的樣品。

應(yīng)用實(shí)例

• 用于檢查金屬制品的表面光潔度

• 用于檢查鋁和不銹鋼軋制板的外觀

• 用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀

• 用于檢查硅片表面光潔度
  

*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點(diǎn)必須平坦。