故障測試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀分析

使用 TLP（傳輸線脈沖）的設(shè)備的抗擾度測試儀。
使用ESD槍的符合IEC64000-4-2的設(shè)備的抗擾度測試儀很常見，但是當它們到達LSI時，它們會產(chǎn)生振動波形，因此當它們向正方向擺動時會因振動而發(fā)生故障。向負方向擺動時無法區(qū)分故障和故障的問題。
在該測試儀中，通過將矩形波直接施加到具有低阻抗的 LSI 的引腳上，可以區(qū)分正故障和負故障。
通過使用可選的同步單元，可以很好地再現(xiàn)故障事件。
例如，在 CPU 的情況下，通過在 ROM/RAM/IO 訪問的定時施加脈沖噪聲，可以在每個定時進行抗擾度測試。
此外，方波易于建模作為模擬信號源，并有望作為分析工具。

如下圖所示，將連接器插入電源或GND線，連接應用探頭，設(shè)置應用電壓和應用次數(shù)。圖中，過濾器在外部，過濾器前面的一側(cè)在設(shè)備內(nèi)部。由于本設(shè)備不具備檢測 LSI 故障的功能，因此需要通過在被測設(shè)備上安裝監(jiān)視器 LED 來采取一些措施來檢測故障。
使用同步單元時，需要將來自LSI的同步信號輸入同步單元。