日本Sinko denki針孔檢測(cè)的原理及設(shè)備介紹

針孔檢測(cè)原理

將兩個(gè)金屬體（電極）以恒定距離 (t) 放置在空氣中，并在兩個(gè)電極之間連接高壓發(fā)生器 (E)。接下來，隨著電源電壓的逐漸增加，您可以在電極之間看到一定值的聲光條紋。（見圖1）

這是因?yàn)榭諝獗皇┘釉陔姌O之間的電壓破壞而失去電絕緣性，這種射線系統(tǒng)現(xiàn)象稱為火花放電。
空氣被電壓擊穿稱為介質(zhì)擊穿，此時(shí)的電壓稱為擊穿電壓。絕緣耐壓
是空氣絕緣能承受一定電壓的破壞力。

用于包裝的絕緣材料，如薄膜和塑料容器，通常具有比空氣更高的介電強(qiáng)度。因此，如果在引起放電的電極之間插入薄膜等，則電極會(huì)被高介電強(qiáng)度阻擋，放電會(huì)失去返回路徑而停止。（參見圖 2。）

因此，如果在電極之間施加一個(gè)不破壞封裝材料而只破壞空氣絕緣的電壓，則用完好的封裝材料不會(huì)發(fā)生放電，只有針孔等有缺陷的部分才會(huì)放電。（參照?qǐng)D3） 針孔檢查機(jī)檢測(cè)有無這種放電，判斷產(chǎn)品的質(zhì)量。

包裝針孔檢測(cè)原理

1 針孔檢查方法

左圖為封裝后的針孔檢測(cè)裝置的檢測(cè)輪廓。
如果在封裝通過檢查電極下方時(shí)檢測(cè)到針孔或密封不良，則檢查電極與內(nèi)容物之間以及接地電極與內(nèi)容物之間將發(fā)生放電。
該設(shè)備檢測(cè)是否存在這種放電，并確定包裝中針孔的質(zhì)量。

2、針孔檢測(cè)原理

圖 4 用等效電路代替了針孔檢查的示意圖。

C1是檢查電極和內(nèi)容物之間形成的電容，C2是接地電極和內(nèi)容物之間形成的電容。R是內(nèi)容物的電阻。

如果接地電極比檢查電極大，C2 的阻抗與 C1 相比可以忽略不計(jì)，則可以將其視為 C1 和 R 的串聯(lián)電路，如圖 5 所示。

此外，如果內(nèi)容物是導(dǎo)電的并且電阻可以忽略不計(jì)，電路配置將與上一節(jié)中的圖3相同，并且可以進(jìn)行穩(wěn)定的針孔檢查。

如果在電極之間施加不破壞包裝材料而僅破壞空氣絕緣的電壓，則如果包裝材料有針孔或密封不良，則會(huì)發(fā)生放電。通過檢測(cè)有無這種放電，可以判斷產(chǎn)品針孔的好壞。

能否通過高壓放電法對(duì)包裝品進(jìn)行針孔檢查，取決于電極間施加的電壓（外加電壓）、包裝材料的絕緣強(qiáng)度、內(nèi)容物的電特性、形狀等. 因此，針孔檢查需要滿足以下條件。

1 包裝材料的特性
包裝材料必須具有較高的電絕緣性，并具有相對(duì)于檢驗(yàn)電壓足夠大的介電強(qiáng)度。
■ 如果絕緣低，可能會(huì)導(dǎo)致誤檢測(cè)。
■ 如果邊緣強(qiáng)度低，則有損壞完好包裝材料的風(fēng)險(xiǎn)。

2 內(nèi)容物條件
內(nèi)容物必須在包裝材料中填充良導(dǎo)體。
■ 即使內(nèi)容物是導(dǎo)電的，如果它們具有高電阻，則可能無法進(jìn)行針孔檢查。
■ 根據(jù)產(chǎn)品的形狀、內(nèi)容物的形狀、特性、包裝條件等，可能無法進(jìn)行針孔檢查。

APH-D

絕緣材料（塑料瓶蓋、塑料瓶、玻璃瓶、陶器）等在灌裝前采用高壓放電式針孔檢測(cè)對(duì)針孔缺陷進(jìn)行非接觸檢測(cè)。

APH-DE25S

除拉蓋外，還可用于布丁等食品容器和眼藥水等化學(xué)容器的針孔檢查。

特斯拉燈檢查器

檢測(cè)燈泡和電子管的排氣水平或確定封閉氣體，檢測(cè)玻璃安瓿和真空裝置的玻璃部分的廢氣水平或確定封閉氣體。檢測(cè)橡膠、塑料和其他薄膜和薄板上的針孔。

APH-P

它用作針孔檢查機(jī)，以電氣檢查意外出現(xiàn)在塑料涂層覆蓋面上的針孔，該塑料涂層安裝在彈性軟管的外表面上，用于防水。

APH-A

通過高壓放電式針孔檢測(cè)對(duì)填充化學(xué)品和食品（塑料瓶、瓶子、容器、袋子）后的缺陷和樹脂薄膜等針孔缺陷進(jìn)行非接觸檢測(cè)。

微型檢查器（濕）

由于本機(jī)使用高電壓，因此可用于薄膜針孔檢查，如果氣隙約為幾十微米，則會(huì)導(dǎo)致絕緣失效。

電壓檢查器

本機(jī)是檢查 APH-D 型電極（+ 電極）電壓的設(shè)備。