納米粒子粒度分布如何檢測-日本meiwafosis納米粒子成像分析儀

日本meiwafosis納米粒子成像分析儀VIDEO DROP 

期待已久的“xin納米粒子測量儀”演示和發(fā)布！
無需標(biāo)記
，只需一滴即可實(shí)時測量10 nm至10μm的顆粒

• 操作是施加樣品，然后[只需單擊一下！]
  輕松快速地測量納米粒度分布和濃度


• 從樣品中獲取[僅需40秒即可獲得結(jié)果]！
  通過跟蹤算法分析觀察到的納米粒子的棕色運(yùn)動，并在至少40秒內(nèi)測量納米粒子的尺寸分布和濃度。


• [小樣品量為5µL]不會浪費(fèi)珍貴樣品！
  通過用LED光照射微孔中含有5-10 µL納米顆粒的溶液，可以檢測由納米顆粒散射的光和入射光之間的干涉。

使用干涉方法和高速攝像頭觀察納米粒子軌道

軟件中安裝的跟蹤算法可以立即計(jì)算出軌道速度和距離，
并實(shí)時顯示觀察到的納米粒子的大小和數(shù)量。

VIDEO DROP納米顆粒成像分析儀規(guī)格